Störquellen in elektronischen Schaltungen können vielfältiger Natur sein. Diese in einer Baugruppe zu lokalisieren ist eine Herausforderung. Um Störquellen genauestens zu orten bietet ein Nahfeld-Scan die Möglichkeit Emissionen örtlich fein aufgelöst zu messen.

Zur Identifizierung dieser Quellen verwendet das Prüfzentrum einen computergesteuerten Nahfeld-Scanner. Die Genauigkeit, der Bewegungsradius und die Flexibilität des Systems ermöglicht Untersuchungen von ganzen Geräten bis hinunter auf die IC-Ebene. Elektrische und magnetische Feldstärken bis 6 GHz können aufgezeichnet werden. Die Prüfung kann als Auftragsmessung oder in Verbindung mit einer Beratung zum EMV-gerechten Schaltungsdesign durchgeführt werden. Die EMV-Härtung können wir anschließend in unserem Labor ebenfalls durchführen.